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Description
我将两台逻辑分析仪同时接入同一组信号进行对比测试,其中一台为 DSView 逻辑分析仪,另一台为 其他型号的逻辑分析仪,采样配置均为 5M 采样率、16 通道。
其中 0–7 通道 和 8–15 通道 分别连接到两个不同的待测设备。
在测试过程中发现:DSView 逻辑分析仪在某些场景下会多采集到一个额外的脉冲。在该异常脉冲期间,通道 6–15 出现了一个持续约 200ns 的高电平(单个单位拉高),该现象不符合预期。
相关证据如下:
证据 1:
待测板本身不存在该高电平拉高信号。
证据 2:
该异常信号同时涉及两个独立的待测板,两个板子不可能在同一时间如此巧合地同时拉高、再同时拉低。
证据 3:
另一台逻辑分析仪未采集到该异常脉冲,其采集结果符合预期。
综上,初步判断该异常高电平脉冲很可能是 DSView 逻辑分析仪自身采样或解析产生的伪信号。
(附图如下)
出问题时:
DSLogic_PLus_la_20260107_204352_384.zip
其他逻辑分析仪抓到的文件(开始时间比 DSView 更早, 结束时间比 DSView 更晚, 覆盖整个 DSView 采样区间), 没有那个奇怪的脉冲, 符合预期

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